東京--(美國商業資訊)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(總裁兼執行長:Izumi Oi)宣布於2023年2月1日推出FIB-SEM系統JIB-PS500i。
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隨著先進材料結構愈發精細化和製程愈發複雜化,形態觀察、元素分析等評價技術對解析度和精確度提出了更高的要求。在半導體產業、電池和材料領域,在為穿透式電子顯微鏡(TEM)製備樣品時需要「更高的精確度」和「更薄的樣品」。
本產品是可高精確度加工的FIB(聚焦離子束)系統和高解析度SEM(掃描式電子顯微鏡)的組合系統,可滿足上述要求。
主要特性
銷售目標
50台/年
產品URL:https://www.jeol.com/products/scientific/fib/JIB-PS500i.php
JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan
Izumi Oi,總裁兼執行長
(股票代碼:6951,東京證券交易所主要市場)
www.jeol.com
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聯絡方式:
JEOL Ltd.
科學與測量儀器銷售部
電話:+81-3-6262-3567
https://www.jeol.com/contacts/products.php
FIB-SEM 系統PS500i(照片:美國商業資訊)
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